Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Information

02 - Meddelande om upphandling
Öppet förfarande
2020-11-11 16:52 (GMT+01:00)
2020-12-07 13:00 (GMT+01:00)

Inköpare

University of Helsinki University of Helsinki
Toni Wolanen Toni Wolanen
PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
00014 Helsinki
Finland
0313471-7
www.helsinki.fi

Anbudsfristen har passerat.

Kort beskrivning

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Dokument (klicka på filnamnet för att ladda ner)

Namn Filstorlek
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens_liitteet.zip 314 KB
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens.pdf 177 KB

Mercell Commerce

Del av Mercellgruppen, en av Europas ledande leverantörer av elektroniska upphandlings- och anbudssystem på den professionella marknaden.

Produkter

Upphandlingsbevakning
Upphandlingsverktyg
Marknadsbevakning
Kommande upphandlingar

Mercell

Om oss
Investor
Etiska riktlinjer
Samarbetspartner
Karriär
Nyheter

Kontakta oss

Klicka här för att gå till vår support

+46 077 144 02 00
Mercell Commerce | Lindhagensgatan 94, 11218 Stockholm, Sverige
Integritetspolicy | Cookies | Användarvillkor |Kontakta oss | Logga in