Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Informasjon

Anbudstype

02 - Kunngjøring

Prosedyre

Åpen anbudskonkurranse

Publiseringsdato

11.11.2020 16.52 (GMT+01:00)

Tilbudsfrist

07.12.2020 13.00 (GMT+01:00)

Innkjøper

Oppdragsgiver

University of Helsinki

Avdeling

Kontakt

Toni Wolanen

Adresse

PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
00014 Helsinki
Finland

Org.nr.

0313471-7

Nettside

www.helsinki.fi

Dato for innlevering er passert

Kort beskrivelse

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Filer (klikk på filnavn for å laste ned)

Tittel	Størrelse
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens_liitteet.zip	314 KB
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens.pdf	177 KB

Mercell Norge AS

Del av Mercell-gruppen, en av Europas ledende leverandører av elektroniske anbudsverktøy og informasjon mellom innkjøpere og leverandører i det profesjonelle markedet.

Våre hovedprodukter

Anbudsvarsling
Konkurrentovervåkning
Markedsanalyse
Skybaserte anbudsverktøy
Kurs for innkjøpere og leverandører

Mercell

Samarbeidspartnere
Etiske retningslinjer
Ledige stillinger
Kontorer
Anbudsarkiv
ISO 27001
Om oss
Referanser
Investor
Veiledninger og FAQ

Kontakt oss

Klikk her for å gå til support

+47 21 01 88 00

Mercell Norge AS | Askekroken 11, 0277 OSLO, Norge