Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Hankinnan yleistiedot

02 - Hankintailmoitus (2)
Avoin menettely
11.11.2020 17.52 (GMT+02:00)
7.12.2020 14.00 (GMT+02:00)

Hankintayksikkö

University of Helsinki University of Helsinki
Toni Wolanen Toni Wolanen
PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
00014 Helsinki
Suomi
0313471-7
www.helsinki.fi

Määräaika on umpeutunut

Lyhyt kuvaus

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Hankinta-asiakirjat

Tiedosto Koko
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens_liitteet.zip 314 KB
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens.pdf 177 KB

Mercell Suomi Oy

Osa Mercell-ryhmää, Euroopan johtavaa hankintapalvelujen sekä sähköisen kilpailutusjärjestelman tuottajaa.

Palvelut

Hankintavahtipalvelut
Hankintajärjestelmä
Asiakastuki

Yleistä hankinnoista

Hankintalaki
TED

Yhteydenotto

Klikkaa tästä asiakaspalveluun

+358 207 528 600
Mercell Suomi Oy | Runeberginkatu 5, 00100 Helsinki, Suomi
Tietosuojakäytännöt | Evästeistä | Palvelun käyttöehdot |Ota yhteyttä | Kirjaudu