Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Hange

Hanke tüüp

02 - Contract notice

Teate liik

Avatud menetlus

Avaldamise kuupäev

11.11.2020 17:52 (GMT+02:00)

Pakkumuste esitamise tähtaeg

07.12.2020 14:00 (GMT+02:00)

Hankija

Ettevõte/asutus

University of Helsinki

Osakond

Kontaktisik

Toni Wolanen

Aadress

PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
00014 Helsinki
Finland

Reg. nr

0313471-7

Koduleht

www.helsinki.fi

Hange on lõppenud

Hanke lühikirjeldus

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Hankele lisatud dokumendid

Dokumendi nimi	Faili suurus
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens_liitteet.zip	314 KB
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens.pdf	177 KB

Mercell Estonia OÜ

Mercelli gruppi kuuluv Euroopa juhtiv e-hanke keskkond vahendab infot ostjate ja tarnijate vahel.

Teenused

Ettevõtetele
Avalikule sektorile
Eraisikule
Korteriühistule

Info

Hanked
Riigihanked
Hankeplaanid
Hanked.ee - riigihanked

Kontakt

Mercell Eesti kasutajatugi

+372 683 6785