Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Information

Type

02 - Udbudsbekendtgørelse

Procedure

Offentligt udbud

Offentliggørelse

11-11-2020 16:52 (GMT+01:00)

Tidsfrist

07-12-2020 13:00 (GMT+01:00)

Indkøber

Ordregiver

University of Helsinki

Afdeling

Kontakt

Toni Wolanen

Addresse

PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
00014 Helsinki
Finland

CVR nr

0313471-7

Hjemmeside

www.helsinki.fi

Tidsfristen er overskredet

Kort beskrivelse

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Filer

Navn	Størrelse
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens_liitteet.zip	314 KB
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens.pdf	177 KB

Mercell A/S

En del af Mercell, en af Europas ledende aktører inden for formidling af information mellem indkøber og leverandør på det professionelle marked. CVR nr. 25698851

Virksomhedsprofil

Om os
Historie og vision
Job
Samarbejdspartnere
ISO 27001
Blog

Produkter

Mercells Udbudsportal
ETHICS' Udbudsportal
EU-Supplys Udbudsportal
Overvågningsværktøjer
Procurement

Kontakt

Klik her for at gå til support

+45 63 13 37 00