Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Informacija apie pirkimą

02 - Contract notice
Atviras konkursas
2020-11-11 17:52 (GMT+02:00)
2020-12-07 14:00 (GMT+02:00)

Informacija apie pirkėją:

University of Helsinki University of Helsinki
Toni Wolanen Toni Wolanen
PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
00014 Helsinki
Suomija
0313471-7

Pasiūlymų pateikimo terminas praėjo.

Norite gauti panašią informaciją kas rytą? Registruokitės 7 dienų NEMOKAMAI Mercell versijai!

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Dokumentai prieinami užsiregistravus

Pavadinimas Dydis
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens_liitteet.zip 314 KB
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens.pdf 177 KB

Mercell Lithuania UAB

Mercell yra vienas iš Europoje pirmaujančių e-pirkimų sprendimų, kuris suveda pirkėjus ir tiekėjus į vieną erdvę. Čia skelbiami viešieji pirkimai, planuojami viešieji pirkimai, privačių įmonių konkursai ir kita informacija.

Kontaktai

Mercell klientų aptarnavimas

+370 655 3 14 21
Mercell Lithuania UAB | Žirmūnų g. 139, LT-09120 Vilnius, Lietuva