Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Informācija

02 - Contract notice
Atklāts konkurss
11.11.2020 17:52 (GMT+02:00)
07.12.2020 14:00 (GMT+02:00)

Pasūtītājs

University of Helsinki University of Helsinki
Toni Wolanen Toni Wolanen
PL 4 (yliopistonkatu 3), Helsingin yliopisto
00014 Helsinki
Somija
0313471-7
www.helsinki.fi

Piedāvājumu iesniegšanas termiņš ir beidzies.

Lai saņemtu informāciju par iepirkumiem e-pastā, piesakieties, spiežot uz "Saņemt iepirkumu informāciju" lapas lejasdaļā!

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Iepirkuma dokumentācija

Nosaukums Izmērs
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens_liitteet.zip 314 KB
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens.pdf 177 KB

Vēlaties saņemt visaptverošu Jūs interesējošās nozares aktuālo iepirkumu informāciju?

Piesakieties Mercell un saņemiet paziņojumus par jaunākajiem iepirkumiem sev svarīgajās nozarēs 7 dienas bez maksas!

SIA Mercell Latvia

Daļa no Mercell grupas – viens no vadošajiem e-iepirkumu platformu un iepirkumu informācijas piegādātājiem Eiropā.

Par uzņēmumu

Par mums
Kontakti

Pakalpojumi

Iepirkumu veicējiem
Aktuālie Iepirkumi
Publiskā sektora iepirkumi
Mercell Lietuva Viešieji pirkimai

Sazinaties ar mums

Spiediet šeit, lai dotos uz atbalsta lapu

+371 22720771
SIA Mercell Latvia | Dzirnavu iela 37-43, LV-1010 Rīga, Latvija
Privacy policy | Sīkdatnes | Noteikumi |Sazinieties ar mums | Pieslēgties