Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Informasjon

03 - Kontraktstildeling
Åpen anbudskonkurranse
02.03.2021 09.22 (GMT+01:00)

Innkjøper

University of Helsinki University of Helsinki
PL 4 (yliopistonkatu 3)
00014 Helsinki
Finland
0313471-7

Tildelingsinformasjon

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Mercell Norge AS

Del av Mercell-gruppen, en av Europas ledende leverandører av elektroniske anbudsverktøy og informasjon mellom innkjøpere og leverandører i det profesjonelle markedet.

Kontakt oss

Klikk her for å gå til support

+47 21 01 88 00