Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Biological Specimens

Hange

03 - Contract award notice
Avatud menetlus
02.03.2021 10:22 (GMT+02:00)

Hankija

University of Helsinki University of Helsinki
PL 4 (yliopistonkatu 3)
00014 Helsinki
Finland
0313471-7

Eesmärk

A high resolution field emission scanning electron microscope (SEM) equipped with a focused ion beam (FIB) for serial block face and section imaging of plastic embedded biological specimens.

Mercell Estonia OÜ

Mercelli gruppi kuuluv Euroopa juhtiv e-hanke keskkond vahendab infot ostjate ja tarnijate vahel.

Kontakt

Mercell Eesti kasutajatugi

+372 683 6785
Mercell Estonia OÜ | Põhja puiestee 21C, 10143 Tallinn, Eesti