Piedāvājumu iesniegšanas termiņš ir beidzies.
Vi planlegger å anskaffe et state-of-the art SPM instrument, inkludert programvare og drivere. Systemet vil bli brukt for å studere de elektroniske nanoskala egenskapene til funksjonelle oksider ved høye temperaturer i en kontrollert atmosfære. I tillegg til nanoskala oppløsning av topografiske egenskaper i AFM-modus vil instrumentet gi mulighet til å kartlegge et vidt spektrum av elektroniske egenskaper ved bruk av avanserte teknikker som f. eks. cAFM, PFM, MFM, KPFM, og EFM blant flere (see appendiks 1 for detaljer). Forskningen som skal gjennomføres krever at eksperimentene blir gjennomført ved temperaturer ≳ 280 oC, samtidig som atmosfærens trykk og sammensetning (f. eks. argon, oksygen eller nitrogen) måles og kontrolleres med høy presisjon.
Piesakieties Mercell un saņemiet paziņojumus par jaunākajiem iepirkumiem sev svarīgajās nozarēs 7 dienas bez maksas!