Piedāvājumu iesniegšanas termiņš ir beidzies.
Ett brukervennlig X-ray diffraction system for strukturelle materialanalyser, spesielt tynnfilmer. Systemet må tillate bruk av både "out of plane" og "in-plane diffraction" målinger av tynnfilmer med tykkelser varierende mellom nanometer og mikrometer området.
Piesakieties Mercell un saņemiet paziņojumus par jaunākajiem iepirkumiem sev svarīgajās nozarēs 7 dienas bez maksas!