Øivind Martinsen

Hankinnat

Otsikko	Tarjousten jättöpäivä
3 D pixel sensorutvikling
LC-MS
Utenlandsopphold Grunderskolen
Cellesorter
LC-MS
Rask avstembar laser system
Laser skanning konfokalt mikroskop
Isotopforhold-massespektrometer (IRMS)	5.12.2016 13.00
System for forstøvings avsetning	3.11.2016 13.00
Kjøleenhet for eksisterende innfrarødt spektroskopi system	31.10.2016 15.00
3D Optisk profileringsinstrument	22.8.2016 15.00
Ionekromatograf
Lab robot for Illumina og PacBio
Skanning Elektronmikroskop med EDS og CLS	25.4.2016 15.00
Atomic Force Microscope Platform
LaBr3 detektorer til Fysisk inst./Syklotronen
Electron microscopic equipment.
Massespektrometer
Elektronmikroskopisk utstyr
PTR-TOF instrument
Høytemperatur vibrerende prøvemagnetomter
Argon Ion Mill System	13.4.2015 15.00
ETEM prøveholder
Massespektrometer	6.2.2015 15.00
GPC/SEC med lysspredningsdetektorer
Avtrekkskap til Kjemisk institutt
4 Tubes Furnace
Massespektrometer TOF
Surface Force Apparatus
Utstyrspakke spektrometer, kamera og programvare
Massespektrometer TOF
Triaxial celle for røntgentomografi
Avtrekkskap til Kjemisk institutt
Prosessutvikling for framstilling av tynne 3DPixel strålingssensorer
Utstyrspakke spektrometer, kamera og programvare	18.8.2014 15.00
Surface Force Apparatus
ETEM prøveholder	8.8.2014 15.00
Sanger sekvensering
Elektronmikroskopisk utstyr	6.6.2014 15.00
Ultralyd forskningsskanner
X ray fluorescence spectrometer
2013-8077 Scanning Electron Microscope
Physical Vapour Deposition system
Ultralyd forskningsskanner
Tjenester i f.m. utenlandsopphold til Gründerskolen
Nano-UHPLC-ESI MS system
2013-12778 UHPLC-ESI MS	3.1.2014 15.00
2013-12543 X-ray fluorescence spectrometer	2.12.2013 15.00
2013-7734 Physical Vapour Deposition system	20.8.2013 15.00
2013-8077 Scanning Electron Microscope	14.8.2013 15.00
2013-7470 NanoDSC med ITC
2013-5411 Direct Write Laser lithography system	21.6.2013 15.00
2012-343 Røntgendiffraksjonsutstyr
2013-1108 GC-MSMS	15.4.2013 15.00
2013-2597 Høy presisjons RF kavitet	19.4.2013 15.00
2013-1108 GC-MSMS
2012-6379 Scanning Probe Microscope
2012-6381 QICPMS-LA massespektrometer
2012-6379 Scanning Probe Microscope	20.8.2012 15.00
2012-6381 QICPMS-LA massespektrometer	3.8.2012 15.00

Mercell Suomi Oy

Osa Mercell-ryhmää, Euroopan johtavaa hankintapalvelujen sekä sähköisen kilpailutusjärjestelman tuottajaa.

Palvelut

Hankintavahtipalvelut
Hankintajärjestelmä
Asiakastuki

Yleistä hankinnoista

Hankintalaki
TED

Yhteydenotto

Klikkaa tästä asiakaspalveluun

+358 207 528 600