SEM/FIB metrology platform

Hankinnan yleistiedot

Lomake

02 - Hankintailmoitus (2)

Hankintamenettely

Avoin menettely

Julkaisupäivämäärä

22.11.2022 12.12 (GMT+02:00)

Tarjousten jättöaika

20.12.2022 0.59 (GMT+02:00)

Hankintayksikkö

Nimi

Kungliga Tekniska högskolan

Osasto

Yhteyshenkilö

Karin Edoff

Osoite

Drottning Kristinas väg 6
11428 Stockholm
Ruotsi

Y-tunnus

202100-3054

Verkkosivu

www.kth.se

Määräaika on umpeutunut

Lyhyt kuvaus

Purpose of procurement KTH is seeking tenders for a SEM/FIB metrology platform. The purpose of the procurement is to acquire a platform for imaging and patterning of novel materials and devices at the nanoscale.

Hankinta-asiakirjat

Tiedosto	Koko
1-AllDocuments.pdf	422 KB
Samtliga+bifogade+dokument.zip	343 KB

Mercell Suomi Oy

Osa Mercell-ryhmää, Euroopan johtavaa hankintapalvelujen sekä sähköisen kilpailutusjärjestelman tuottajaa.

Palvelut

Hankintavahtipalvelut
Hankintajärjestelmä
Asiakastuki

Yleistä hankinnoista

Hankintalaki
TED

Yhteydenotto

Klikkaa tästä asiakaspalveluun

+358 207 661 072