Metrology system for characterisation of quantum materials

Hankinnan yleistiedot

02 - Hankintailmoitus (2)
Avoin menettely
21.9.2021 15.22 (GMT+03:00)
21.10.2021 0.59 (GMT+03:00)

Hankintayksikkö

Kungliga Tekniska högskolan Kungliga Tekniska högskolan
Karin Edoff Karin Edoff
Drottning Kristinas väg 6
11428 Stockholm
Ruotsi
202100-3054

Määräaika on umpeutunut

Lyhyt kuvaus

Purpose of procurement KTH is seeking tenders for a metrology platform equipped with electrical, optical, magnetic, thermal, and mechanical measurement capabilities, designed for variable temperature and magnetic fields (q-sensor/comms/computing devices are used primarily at low-T). Such a platform will offer quick-turnaround test and characterisation, thereby significantly shortening our fabrication loops and process iteration times. As most optical properties are well characterised using ellipsometry techniques at zero magnetic field and room temperature, it is acceptable if the optical measurements are performed in a separate system where collected data can be fed forward into further measurements in the main tool.

Hankinta-asiakirjat

Tiedosto Koko
1-AllDocuments.pdf 467 KB
Samtliga+bifogade+dokument.zip 586 KB

Mercell Suomi Oy

Osa Mercell-ryhmää, Euroopan johtavaa hankintapalvelujen sekä sähköisen kilpailutusjärjestelman tuottajaa.

Yleistä hankinnoista

Hankintalaki
TED

Yhteydenotto

Klikkaa tästä asiakaspalveluun

+358 207 661 072