SPM systemet vil bli brukt til morfologisk og elektrisk karakterisering i nanoskalaområdet av hovedsakelig uorganiske materialer.
Ytterligere spesifikasjoner i konkurransedokumenter.
Merk: For å melde din interesse i denne kunngjøringen og motta tilleggsinformasjon vennligst besøk Doffin nettsiden http://www.doffin.no/Search/Search_Switch.aspx?ID=261842.